Miller D.J., Maroni V.A., Specht E.D., Chen Z., Aytug T., Paranthaman M.P., Zuev Y., Kropf A.J., Zaluzec N.J.
Miller D.J., Maroni V.A., Specht E.D., Paranthaman M., Aytug T., Cantoni C., Zhang Y., Zuev Y., Kropf A.J., Chen Z.*21, Zaluzec N.
Maroni V.A., Goyal A., Specht E.D., Paranthaman M., Aytug T., Christen D.K., Kim K., Cantoni C., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y.L.
Ключевые слова: HTS, YBCO, REBCO, coated conductors, RABITS process, TFA-MOD process, fabrication, Raman spectroscopy, phase formation, thickness dependence, time evolution
Maroni V.A., Goyal A., Paranthaman M., Aytug T., Heatherly L., Kim K., Zhang Y., Selvamanickam V., Chen Y., Zuev Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOCVD process, IBAD process, fabrication
Miller D.J., Maroni V.A., Rupich M.W., Li X., Specht E.D., Christen D.K., Larbalestier D.C., Sathyamurthy S., Thompson J.R., Feenstra R., Xu A., Sinclair J.
Miller D.J., Maroni V.A., Li X., Rupich M., Chen Z., Sathyamurthy S., Feenstra R., Zaluzec N.J., Cooley K.
Ключевые слова: presentation, HTS, coated conductors, measurement technique, Raman spectroscopy, homogeneity, REBCO, YBCO
Miller D.J., Maroni V.A., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Chen Z., Holesinger T.G., Larbalestier D.C., Feenstra R., Coulter J.Y., Civale L., Maiorov B., Feldmann D.M., Huang Y.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, nanoscaled effects, microstructure, chemical solution deposition, fabrication, nucleation, porosity, critical current, n-value, homogeneity, thickness dependence, pinning force, MOD process, critical current density, angular dependence, RABITS process, PLD process, Jc/B curves, critical caracteristics
Ключевые слова: HTS, coated conductors, measurement technique, phase formation, microstructure, Raman spectroscopy
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, fluorine process, fabrication, phase formation, Raman spectroscopy, measurement technique
Zhang W., Huang Y., Li X., Kodenkandath T., Rupich M.W., Schoop U., Verebelyi D.T., Thieme C.L., Siegal E., Holesinger T.G., Maiorov B., Civale L., Miller D.J., Maroni V.A., Li J., Martin P.M., Specht E.D., Goyal A., Paranthaman M.P.
Miller D.J., Maroni V.A., Rupich M.W., Li X., Kodenkandath T., Holesinger T.G., Civale L., Maiorov B., Huang Y., Arenal R.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, MOD process, RABITS process, defects, pinning, substrate single crystal, comparison, PLD process, experimental results, fabrication
Ключевые слова: HTS, coated conductors, long conductors, MOD process, microstructure, defects, YBCO, MOD process, fabrication, pinning, presentation, measurement technique
Balachandran U.(balu@anl.gov), Miller D.J., Maroni V.A., Vlasko-Vlasov V., Welp U., Gray K.E., Reeves J., Claus H., Trasobares S., Lei Y., Hiller J.M.
Ma B., Koritala R.E., Fisher B.L., Dorris S.E., Miller D.J., Balachandran U., Maroni V.A., Uprety K.K.
Miller D.J., Maroni V.A., Rupich M.W., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Gray K.E., Reeves J., Vlasko-Vlasov V.K., Claus H., Trasobares S., Lei Y., Hiller J.M., Venkataraman K.(venkataraman@wisc.edu)
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.